GeminiSEM

为对任意样品进行高水准的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率,能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下,更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性,为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像,提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。运用GeminiSEM系列产品,您可轻松获取真实世界中任意样品出色的图像和可靠的分析结果。

  • GeminiSEM 500 具有出色的分辨率,在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息,其创新设计的NanoVP可变压力模式,甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉;

  • GeminiSEM 450 具有出色的易用性设计、更快的响应和更高的表面灵敏度,使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析,充当您的得力助手;

  • GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的衬度和更大且无畸变的成像视野,可方便地选取适合样品的真空度等环境参数,使FESEM初学者也能快速掌握;

轻松地对任意样品进行亚纳米分辨成像的场发射扫描电子显微镜,更灵敏、更灵活、更简单、更智能。

GeminiSEM -清晰的图像

更强的信号,更丰富的细节

GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息,尤其在低的加速电压下,在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。

经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号,助您快速地获取清晰的图像,并使样品损伤降至更低;

在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度,二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm,500 V达1.0 nm,无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像,为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息;

应用样品台减速技术-(Tandemdecel),可在1 kV下获得高达0.8nm 二次电子图像分辨率;

创新设计的可变压力模式-NanoVP技术,让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。

基本规格 蔡司 GeminiSEM 500 蔡司 GeminiSEM 450 蔡司 GeminiSEM 300
热场发射电子枪,稳定性优于0.2 %/h
加速电压 0.02 - 30 kV
探针电流 3 pA - 20 nA 3 pA - 40 nA 3 pA - 20 nA
(100 nA配置可选) (100 nA或300 nA配置可选) (100 nA配置可选)
存储分辨率 最高达32k × 24k 像素
放大倍率 50 – 2,000,000 12 – 2,000,000 12 – 2,000,000
标配探测器 镜筒内Inlens二次电子探测器
样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器

可选配的

项目

镜筒内能量选择背散射探测器
- 角度选择背散射探测器 角度选择背散射探测器
环形STEM探测器(aSTEM 4)
EDS能谱仪
EBSD探测器(背散射电子衍射)
NanoVP可变压力模式
高效VPSE探测器(包含在NanoVP可变压力选件中)
局部电荷中和器
可订制特殊功能样品台
环形背散射电子探测器
阴极射线荧光探测器

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